半導體設備
晶片(膜片)檢測設備|AIX4500a

產品概述

高亮度RGB照明和鏡頭更換器可實現高精度、廣角檢測。

  • 自動卡盒輸送
  • 支援MAP數據
  • 支援紅外線相機(選配)
  • 晶片不合格標記功能(選配)
  • 用於外部PC上檢視和編輯偵測資料的輪廓PC功能(選配)

產品規格

  • 適用工件尺寸:晶片尺寸0.2mm至8mm
    *根據檢測分辨率,可容納大於8mm的晶片
  • 標配晶圓尺寸:8吋晶圓環
    *使用更換套件可容納6吋及以下的晶片
  • 標準相機:9-2500萬畫素・校正相機:300萬畫素
  • 檢測功能:晶片污染/污漬檢測、探針痕跡檢測、焊盤有無檢測、各種尺寸檢測、切屑檢測、模具外觀檢測及球體外觀檢測